特許

J-GLOBAL ID：200903097250287371

分光分析装置

発明者： 瀧澤 精一 ,  酒井 千明 ,  五十嵐 慶介 ,  山内 良吾
出願人/特許権者： 株式会社クボタ
代理人 (1件)： 北村 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-172171
公開番号（公開出願番号）：特開平8-035929
出願日： 1994年07月25日
公開日（公表日）： 1996年02月06日
要約：

【要約】【目的】 任意の場所において、簡単に、種々の大きさや形状の試料に含まれる成分を求めることができる分光分析装置を提供する。【構成】 光源1と照射部3とは、光源1からの測定用光線束を照射部3に導く照射用光ファイバ22にて接続され、受光部4と分光分析手段6とは、受光部4が受光した透過光を分光分析手段6に導く受光用光ファイバ51にて接続され、照射部3及び受光部4をそれらの間隔の変更が可能な状態で支持する支持手段7が、手指にて保持されて持ち運び可能に、且つ、保持する手指にて間隔を変更可能な状態に構成され、支持手段7に、照射部3と受光部4との間隔を測定する間隔測定手段8が設けられ、分光分析手段6は、間隔測定手段8が測定した間隔に基づいて求める成分を補正するように構成されている。

請求項（抜粋）：

光源(1)からの測定用光線束を試料に照射する照射部(3)と、前記試料を透過した透過光を受光する受光部(4)と、その受光部(4)が受光した透過光の分光スペクトルを得て、得られた分光スペクトルに基づいて前記試料に含まれる成分を求める分光分析手段(6)が設けられた分光分析装置であって、前記光源(1)と前記照射部(3)とは、前記光源(1)からの測定用光線束を前記照射部(3)に導く照射用光ファイバ(22)にて接続され、前記受光部(4)と前記分光分析手段(6)とは、前記受光部(4)が受光した透過光を前記分光分析手段(6)に導く受光用光ファイバ(51)にて接続され、前記照射部(3)及び前記受光部(4)をそれらの間隔の変更が可能な状態で支持する支持手段(7)が、手指にて保持されて持ち運び可能に、且つ、保持する手指にて前記間隔を変更可能な状態に構成され、前記支持手段(7)に、前記照射部(3)と前記受光部(4)との間隔を測定する間隔測定手段(8)が設けられ、前記分光分析手段(6)は、前記間隔測定手段(8)が測定した間隔に基づいて求める成分を補正するように構成されている分光分析装置。

IPC (2件)：

G01N 21/27 ,  G01N 21/59