特許
J-GLOBAL ID:200903097302731542
回折/散乱光の光強度分布データの比較方法、および粒度分布測定装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
杉谷 勉
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-000998
公開番号(公開出願番号):特開平10-197439
出願日: 1997年01月08日
公開日(公表日): 1998年07月31日
要約:
【要約】【課題】回折/散乱光の光強度分布データ同士の定量的な比較を行う。【解決手段】 二つの光強度分布データをベクトルとして扱い、両ベトクルの交角に関連した交角指標(例えば、cosθ)によって、両光強度分布データの定量的な比較を行う。粒度分布測定の過程では、実測された光強度分布データと、逆換算によって求められた光強度分布データとの比較過程(ステップS4、S5)において、上記の手法を用いることにより、最適な演算条件を容易、かつ的確に選択することができる。
請求項(抜粋):
分散粒子群にレーザ光を照射する過程と、前記分散粒子群からの回折/散乱光を複数の光検出素子で検出して各検出光量データを成分とする光強度分布データを得る過程と、異なる二つの分散粒子群について各々得られた光強度分布データを比較する過程とを含む方法において、前記比較過程は、前記各光強度分布データを、各々の検出光量データを成分とするベクトルとして扱い、これら二つの光強度分布データのなす角度(交角)に関連した交角指標を算出する過程と、前記過程で求めた交角指標に基づいて前記二つの光強度分布データの差異の程度を判定する過程とを含むことを特徴とする回折/散乱光の光強度分布データの比較方法。
引用特許:
審査官引用 (3件)
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粒度分布測定方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-118158
出願人:株式会社島津製作所
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粒度分布測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-158170
出願人:株式会社島津製作所
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特開昭63-032345
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