特許
J-GLOBAL ID:200903097315691876
ひずみ分布測定方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
山川 政樹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-053919
公開番号(公開出願番号):特開平11-248558
出願日: 1998年03月05日
公開日(公表日): 1999年09月17日
要約:
【要約】【課題】 クラックの発生に関わらず試験部材のひずみを測定することができ、試験部材全体に亘るひずみ分布を容易に求める。【解決手段】 試験部材(梁1)の表面に、試験部材(梁1)よりも降伏応力が高くかつ光ファイバ2よりも弾性率の小さい緩衝部材を介して光ファイバ2を固定し、この光ファイバ2のひずみ分布に基づいて試験部材(梁1)のひずみ分布を求める。
請求項(抜粋):
試験部材の表面に、前記試験部材よりも降伏応力が高くかつ光ファイバよりも弾性率の小さい緩衝部材を介して前記光ファイバを固定し、この光ファイバのひずみ分布に基づいて前記試験部材のひずみ分布を求めることを特徴とするひずみ分布測定方法。
IPC (3件):
G01L 1/24
, G01M 11/00
, G02B 6/00
FI (3件):
G01L 1/24
, G01M 11/00 U
, G02B 6/00 B
引用特許: