特許
J-GLOBAL ID：200903097333489170
面粗さ評価方法、面粗さ評価装置、ブラスト処理方法及びブラスト処理制御装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大川 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-275510
公開番号（公開出願番号）：特開平7-128037
出願日： 1993年11月04日
公開日（公表日）： 1995年05月19日
要約：
【要約】【目的】処理面の面粗さを厳格に評価し、粗面化を確実に好適に完了することを可能とする。【構成・作用】被処理品の処理済の処理面を実測して距離と高さとの面波形を求め、この面波形をフーリエ変換して周波数とパワースペクトルとの周波数分析関係に変換する。周波数分析関係は処理面の凹凸の高さとともに凹凸のうねりについても表している。
請求項（抜粋）：
被処理品の処理済の処理面を実測して距離と高さとの面波形を求める実測工程と、該面波形をフーリエ変換して周波数とパワースペクトルとの周波数分析関係に変換する変換工程とを有し、該周波数分析関係に基づき該処理面の面粗さを評価することを特徴とする面粗さ評価方法。
IPC (2件)：
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