特許
J-GLOBAL ID：200903097352812624
ひずみ計,ひずみ計測装置およびこの装置の製造方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高田 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-322587
公開番号（公開出願番号）：特開平7-174644
出願日： 1993年12月21日
公開日（公表日）： 1995年07月14日
要約：
【要約】【目的】 被測定物のひずみ量を、高温または低温下で安定して長期にわたり測定できるひずみ計およびひずみ計測装置を提供する。【構成】 被測定物1のネジ穴8にねじ込んだ状態で、被測定物1に加わる応力を測定できるように、ひずみ計9にネジ部9aを有しかつこのネジ部9aの頭部9bにゲージ抵抗4を形成した。
請求項（抜粋）：
ネジ部を有しかつこのネジ部の頭部にゲージ抵抗を形成したことを特徴とするひずみ計。
IPC (2件)：
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