重水素放電管用混成ICの評価試験装置

発明者：
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：作田康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-275720
公開番号（公開出願番号）：特開2001-099885
出願日： 1999年09月29日
公開日（公表日）： 2001年04月13日
要約：

【要約】【課題】従来技術では混成ICの良品,不良品の判別がプリント基板組み込み通電後のランプ強度測定でないとできなかった。このため、混成ICの不良はプリント基板全体の不良となっていた。【解決手段】D2ランプの点灯放電後の放電電流が所定の範囲内であることの確認ができ、かつ混成IC単品を簡単に交換できる機構を設けた専用の混成IC評価試験装置による。混成ICの生産上、単体での不良を零にすることは非常に困難である。本評価試験装置を使用することにより、不良品の摘出ができ生産性や信頼性の向上がはかられる。

請求項（抜粋）：

発光スペクトルを得るための光源としての重水素放電管(以下D2ランプ)と、前記D2ランプを点灯させるための重要な要素である印加電圧値や印加時間,タイミング等を制御する論理回路を内蔵した混成ICを組み込んだD2ランプ電源からなる分析装置と、前記混成ICの正常動作を確認するための評価試験装置において、D2ランプ電源と評価試験装置の間にD2ランプの点灯放電電流検出抵抗を設けたことを特徴とするD2ランプ用混成ICの評価試験装置。

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