特許
J-GLOBAL ID：200903097370971136
小型電子部品の検査選別機
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-143147
公開番号（公開出願番号）：特開平7-181214
出願日： 1994年06月24日
公開日（公表日）： 1995年07月21日
要約：
【要約】【目的】 小型電子部品の検査選別機において、部品に付着したクズによる円板型テストプレートや被検査用部品の破損を低減する。【構成】 被検査用部品21を検査部品保持開口部22に真空吸着保持して搬送する回転円板型のテストプレート17と、それが重ね合わせて配置され且つその円板型テストプレート17に真空を導入するためのバキューム溝23aが形成されたリング体23とから成る部品保持/搬送部を有する小型電子部品の検査選別機において、リング体23と円板型テストプレート17との当接界面に、検査部品保持開口部22とバキューム溝23aとを連通させる空隙としてのクズ排出溝23dを設け、バキュームを利用して被検査用部品から脱落したクズを排出する。
請求項（抜粋）：
被検査用電子部品を収容するための検査部品保持開口部を設けると共に該検査部品保持開口部側面から下面にかけてバキューム穴を設けた円板型テストプレートと、前記円板型テストプレートの下面に前記検査部品保持開口部の下面を塞ぐように当接され、前記バキューム穴に連通するバキューム溝が形成されたリング体とから成り、前記検査部品保持開口部に収容された被検査用電子部品をバキューム穴及びバキューム溝を介して真空吸着し、被検査用電子部品を前記検査部品保持開口部内に固定すると共に円板型テストプレートの回動に伴って検査部もしくは選別部に搬送するようになした小型電子部品の検査選別機において、前記円板型テストプレートとリング体の当接界面に円板型テストプレートの検査部品保持開口部とリング体のバキューム溝とを連通させるための空隙を設けたことを特徴とする小型電子部品の検査選別機。
IPC (2件)：
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