特許
J-GLOBAL ID：200903097429463733
光学式液晶カラーディスプレイ欠陥検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
深見 久郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-169555
公開番号（公開出願番号）：特開平6-011455
出願日： 1992年06月26日
公開日（公表日）： 1994年01月21日
要約：
【要約】【目的】 この発明はイメージセンサの分解能が不足しても、液晶カラーディスプレイの欠陥検査を正確に行なうことのできるような光学式液晶カラーディスプレイ欠陥検査装置を提供することを主要な特徴とする。【構成】 液晶カラーディスプレイ3を可動ステージ2の上にローディングし、パターンジェネレータ10から発生されたパターンデータを液晶カラーディスプレイ3に表示させ、パルス発生器8から発生されたパルス信号に応じて可動ステージ2を一方方向に順次移動させる。CCDユニット4は液晶カラーディスプレイ3に表示されたパターンを上方から読取り、パーソナルコンピュータ5はCCDユニット4の複数の読取出力を1画素分のデータとして加算し、その加算されたデータにより点灯の欠陥あるいは輝度むらなどの欠陥を判別する。
請求項（抜粋）：
液晶カラーディスプレイの欠陥を検査するための光学式液晶カラーディスプレイ欠陥検査装置であって、前記液晶カラーディスプレイを一方方向に移動させるための可動ステージ、前記液晶カラーディスプレイに検査のためのパターンを表示させる表示制御手段、前記可動ステージの上方から前記液晶ディスプレイのパターンを読取るイメージセンサ、および前記液晶カラーディスプレイの各画素情報を、該画素寸法よりも広範囲なイメージセンサ出力を加算した結果とし、その各画素情報より前記カラーディスプレイの欠陥を判別する判別手段を備えた、光学式液晶カラーディスプレイ欠陥検査装置。
IPC (4件)：
G01N 21/88
, G01R 31/00
, G02F 1/13 101
, H04N 9/30
