特許
J-GLOBAL ID:200903097440055477

反転現像方法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-190490
公開番号(公開出願番号):特開平8-054745
出願日: 1987年09月25日
公開日(公表日): 1996年02月27日
要約:
【要約】 (修正有)【目的】高感度で、繰り返し使用に優れ、帯電性能に優れた感光体を使用した反転現像方法を提供する。【構成】CuKα特性X線(波長1.541Å)に対するブラッグ角2θの最大ピークが27.3度±0.2度にあるチタニルフタロシアニン及び下記一般式〔I〕で表される化合物を含有する感光体を使用した反転現像方法から構成される。[式中R1は水素原子、ハロゲン原子、アルキル基、R2及R3はアルキル基、若しくはアリール基、及びAr1はアリール基を表す。]
請求項(抜粋):
CuKα特性X線(波長1.541Å)に対するブラッグ角2θの最大ピークが27.3度±0.2度にあるチタニルフタロシアニン及び下記一般式〔I〕で表される化合物を含有する感光体を使用して反転現像することを特徴とする反転現像方法。【化1】〔式中、R1は水素原子、ハロゲン原子、又は置換、未置換のアルキル基、R2は各々置換、未置換のアルキル基若しくはアリール基、R3は各々置換、未置換のアルキル基若しくはアリール基、及びAr1は置換、未置換のアリール基を表す。〕
IPC (2件):
G03G 5/06 315 ,  G03G 5/06 371
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開昭62-067094
  • 特開昭63-116158

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