特許

J-GLOBAL ID：200903097442551935

光走査装置及びそれを用いた画像形成装置

発明者： 高山 英美
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 高梨 幸雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-167418
公開番号（公開出願番号）：特開2000-089148
出願日： 1999年06月14日
公開日（公表日）： 2000年03月31日
要約：

【要約】【課題】 光走査装置の温度変化により発生する走査位置ズレと倍率の変化を単一のセンサーより成る検出手段により検出し、良好なる画像を得ることができる光走査装置及びそれを用いた画像形成装置を得ること。【解決手段】 複数の発光部を主走査方向に傾けて配列した光源手段から出射された複数の光ビームを偏向手段に導光し、該偏向された複数の光ビームを結像手段により被走査面上に導光し、被走査面上を同時に光走査する際、被走査面と略同一位置で、かつ主走査方向に対し垂直方向に配置した検出手段面上に、複数の光ビームを結像させ、検出手段により複数の光ビームの走査位置と、複数の光ビームによる通過時間差を検出することにより、光走査装置の温度変化により発生する走査位置ズレと倍率の変化を検出し、検出した結果に基づいて補正手段により、被走査面上における複数の光ビームの描画位置を補正するようにしたこと。

請求項（抜粋）：

複数の発光部を主走査方向に傾けて配列した光源手段から出射された複数の光ビームを偏向手段に導光し、該偏向手段で偏向反射された複数の光ビームを結像手段により被走査面上に導光し、該複数の光ビームで該被走査面上を同時に光走査する光走査装置において、該被走査面と略同一位置で、かつ主走査方向に対し垂直方向に配置した検出手段面上に、該偏向手段を介した該光源手段からの複数の光ビームを該結像手段を介して結像させ、該検出手段により該複数の光ビームの走査位置と、該複数の光ビームによる通過時間差を検出することにより、該光走査装置の温度変化により発生する走査位置ズレと倍率の変化を検出し、該検出した結果に基づいて補正手段により、該被走査面上における該複数の光ビームの描画位置を補正するようにしたことを特徴とする光走査装置。

IPC (6件)：

G02B 26/10 ,  B41J 2/44 ,  G03G 15/01 112 ,  G03G 15/043 ,  G03G 15/04 ,  H04N 1/113

FI (6件)：

G02B 26/10 B ,  G02B 26/10 A ,  G03G 15/01 112 Z ,  B41J 3/00 D ,  G03G 15/04 120 ,  H04N 1/04 104 A