特許

J-GLOBAL ID：200903097448339636

蛍光X線分析装置

発明者： 桑原 章二
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 岡田 和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-052469
公開番号（公開出願番号）：特開平5-256802
出願日： 1992年03月11日
公開日（公表日）： 1993年10月08日
要約：

【要約】【目的】 蛍光X線分析装置において、試料の種類と適合しない雰囲気の下で分析が開始されるといった不都合が発生するのを確実に回避できるようにする。【構成】 試料の種類を検出する試料種別検出手段44と、試料が収納される分析チャンバ4内の雰囲気を検出する雰囲気検出手段18と、両検出手段44,18による検出出力に基づいて、試料の種類と雰囲気とが適合するか否かを判別し、不適合な場合には異常発生と見なして警報を発する警報手段46とを備えている。

請求項（抜粋）：

試料の種類を検出する試料種別検出手段と、試料が収納される分析チャンバ内の雰囲気を検出する雰囲気検出手段と、前記両検出手段による検出出力に基づいて、試料の種類と雰囲気とが適合するか否かを判別し、不適合な場合には異常発生と見なして警報を発する警報手段と、を備えることを特徴とする蛍光X線分析装置。