特許

J-GLOBAL ID：200903097454204785

レーザーイオン化質量分析装置

発明者： 宮澤 邦夫 ,  永野 英樹 ,  近藤 隆明
出願人/特許権者： 日本鋼管株式会社
代理人 (1件)： 田中 政浩
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-138878
公開番号（公開出願番号）：特開平11-329344
出願日： 1998年05月20日
公開日（公表日）： 1999年11月30日
要約：

【要約】【課題】 超音速分子ジェットによる試料導入のレーザーイオン化質量分析技術において、自動波長修正手段を提供する。【解決手段】 上記課題は、分子ジェットを形成するパルスバルブを備えた試料導入部と、パルスレーザー光発振器と、該発振器から発せられたレーザー光が通過しうる窓を有する真空イオン化室または相当する部位と、該レーザー光によってイオン化された分子の質量を分析する質量分析計を有するレーザーイオン化質量分析装置において、イオン化するレーザー光の波長を自動的にチェックして修正する自動波長修正手段を有していることを特徴とするレーザーイオン化質量分析装置によって解決される。

請求項（抜粋）：

分子ジェットを形成するパルスバルブを備えた試料導入部と、パルスレーザー光発振器と、該発振器から発せられたレーザー光が通過しうる窓を有する真空イオン化室または相当する部位と、該レーザー光によってイオン化された分子の質量を分析する質量分析計を有するレーザーイオン化質量分析装置において、イオン化するレーザー光の波長を自動的にチェックして修正する自動波長修正手段を有していることを特徴とするレーザーイオン化質量分析装置

IPC (4件)：

H01J 49/10 ,  G01N 27/62 ,  H01J 27/24 ,  G01N 27/64

FI (4件)：

H01J 49/10 ,  G01N 27/62 G ,  H01J 27/24 ,  G01N 27/64 B