特許
J-GLOBAL ID：200903097459760210
質量分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-002401
公開番号（公開出願番号）：特開平8-189917
出願日： 1995年01月11日
公開日（公表日）： 1996年07月23日
要約：
【要約】【目的】微小領域付着物の分析、同定を可能とすること。【構成】光ファイバ50及びイオントラップ方式質量分析計52を有するレーザ質量分析計。
請求項（抜粋）：
レーザ光を試料に照射して励起脱離する分子を検出する質量分析計において、前記レーザ光の波長より小さい開口を先端に有する光ファイバで前記レーザ光を試料に導入することを特徴とする質量分析装置。
IPC (4件)：
G01N 27/64
, H01J 49/10
, H01J 49/40
, G01N 27/62
