特許
J-GLOBAL ID:200903097469837318
ゲ-ト酸化物を形成する方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
浅村 皓 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-238643
公開番号(公開出願番号):特開2000-091577
出願日: 1999年08月25日
公開日(公表日): 2000年03月31日
要約:
【要約】【課題】 薄い高品質のゲート酸化物を提供する。【解決手段】 電界効果トランジスタ(10)の極薄ゲート酸化物14を形成する方法。ゲート酸化物(14)が、酸化剤(例えばN2O、CO2)をエッチング剤(例えばH2)と組合わせ、薄い(〜12Å)高品質の酸化物(14)を制御自在に成長させるように、分圧を調節することによって形成される。
請求項(抜粋):
ウエーハに電界効果トランジスタのゲート酸化物を形成する方法に於て、前記ウエーハを処理室の中に配置し、第1のエッチング剤を酸化剤と共に前記室に導入して前記ゲート酸化物を形成する工程を含む方法。
IPC (3件):
H01L 29/78
, H01L 21/3065
, H01L 21/316
FI (3件):
H01L 29/78 301 G
, H01L 21/316 S
, H01L 21/302 F
引用特許:
審査官引用 (11件)
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IN-SITU蒸気生成方法及び装置
公報種別:公表公報
出願番号:特願2000-502533
出願人:アプライドマテリアルズインコーポレイテッド
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特開昭53-145574
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特開平2-230736
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特開昭58-042239
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特開昭60-184670
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特開昭62-021230
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ゲート絶縁膜の形成方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-032302
出願人:セイコー電子工業株式会社
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特開平3-215936
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特開昭59-218735
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特開平4-245631
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特開昭62-021230
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