特許
J-GLOBAL ID:200903097469997315
誤り訂正方式
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
徳若 光政
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-351014
公開番号(公開出願番号):特開2000-174639
出願日: 1998年12月10日
公開日(公表日): 2000年06月23日
要約:
【要約】【課題】 その小型化・低コスト化を図りつつ、直列処理型のECC回路を含むフラッシュメモリ等ならびにこれを搭載するメモリカード等の読み出し動作時におけるアクセス所要時間を短縮する。【解決手段】 メモリカード等に搭載されるフラッシュメモリFMEM等の半導体メモリに、保持するリードデータ及びチェックビットを所定の組み合わせで順次選択し、メインセンスアンプMSA及びMSBを含む一対の出力信号経路に伝達する直並列変換回路を含むデータレジスタDRと、これらの出力信号経路に対応して設けられ、対応する出力信号経路を介して伝達されるリードデータ及びチェックビットをもとに所定のシンドロームを生成した後、これらのシンドロームをもとに、再度伝達されるリードデータの誤りを訂正する直列処理型のc個つまり2個のECC回路ECCA及びECCBと、これらのECC回路による誤り訂正を受けつつ出力されるリードデータ所定の順序で組み合わせ、データ入出力端子IO0〜IO7から出力するデータ入出力回路IOCとを設ける。
請求項(抜粋):
チェック対象となる出力データ及びチェックビットをパラレルに取り込み、保持するデータレジスタと、上記データレジスタにより保持される出力データ及びチェックビットを所定の組み合わせで順次選択し、第1ないし第cの出力信号経路に伝達する直並列変換回路と、上記第1ないし第cの出力信号経路に対応して設けられ、対応する出力信号経路を介して伝達される上記出力データ及びチェックビットをもとに所定のシンドロームを生成した後、該シンドロームをもとに、再度伝達される上記出力データの誤りを訂正するc個の直列処理型のECC回路と、上記c個のECC回路による訂正を受けつつ出力される出力データを所定の順序で組み合わせ、所定の出力端子から出力する出力回路とを設け、上記c個のECC回路の上記シンドロームの生成に要する時間が、上記直列処理型のECC回路が1個設けられる場合に比較して実質c分の1とされることを特徴とする誤り訂正方式。
IPC (4件):
H03M 13/00
, G06F 11/10 330
, G11C 16/06
, G11C 29/00 631
FI (4件):
H03M 13/00
, G06F 11/10 330 Q
, G11C 29/00 631 Z
, G11C 17/00 639 C
Fターム (23件):
5B001AA03
, 5B001AB02
, 5B001AC01
, 5B001AD03
, 5B025AA03
, 5B025AB01
, 5B025AC01
, 5B025AD05
, 5B025AD13
, 5B025AE05
, 5B025AE08
, 5J065AC03
, 5J065AE06
, 5J065AF01
, 5J065AF03
, 5J065AG02
, 5J065AH05
, 5J065AH14
, 5J065AH17
, 5L106AA10
, 5L106BB12
, 5L106FF05
, 5L106GG03
引用特許:
審査官引用 (2件)
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半導体ディスク装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-024437
出願人:沖電気工業株式会社
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特開昭58-040682
引用文献:
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