特許
J-GLOBAL ID：200903097487363960
ATMセル導通試験システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井島 藤治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-011393
公開番号（公開出願番号）：特開平5-207049
出願日： 1992年01月24日
公開日（公表日）： 1993年08月13日
要約：
【要約】【目的】 本発明はATM通話路の導通試験を行うATMセル導通試験システムに関し、ATM通話路の導通試験をセル化されたメッセージにおいても確実に行うことができるATMセル導通試験システムを提供することを目的としている。【構成】 その内部にATMセルを交換するATM通話路1と、該ATM通話路1と接続され、メッセージ単位の処理を行うメッセージ処理手段10と、試験セルを生成して前記メッセージ処理手段10を経由してATM通話路1に送り出すと共に、該ATM通話路1の出口側出力をメッセージ処理手段10を経由してその内部に引き込んで試験セルの受信チェックを行う通話路試験手段20とで構成される。
請求項（抜粋）：
その内部にATMセルを交換するATM通話路(1)と、該ATM通話路(1)と接続され、メッセージ単位の処理を行うメッセージ処理手段(10)と、試験セルを生成して前記メッセージ処理手段(10)を経由してATM通話路(1)に送り出すと共に、該ATM通話路(1)の出口側出力をメッセージ処理手段(10)を経由してその内部に引き込んで試験セルの受信チェックを行う通話路試験手段(20)とで構成されたATMセル導通試験システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H04L 11/20 Z
, H04L 11/12
