特許

J-GLOBAL ID：200903097516660480

メモリ診断方式

発明者： 廣田 泰生 ,  田口 善久
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 井桁 貞一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-161309
公開番号（公開出願番号）：特開平5-012133
出願日： 1991年07月02日
公開日（公表日）： 1993年01月22日
要約：

【要約】【目的】 本発明は、少なくとも、演算機構(ALU) とメモリとから構成されるシステムにおけるメモリ診断方式に関し、メモリの診断速度を高速化することを目的とする。【構成】 複数の繰り返しデータパターンのライト/リードで、メモリの診断を行う方式であって、上記複数のデータパターン?@をメモリの全てのアドレスにライトした後、該メモリの内容を読み出し、上記複数の次のデータパターン?@と演算を行い、該演算結果を該メモリの全てのアドレスに書き込むことを、複数のデータパターン?@について繰り返した後、該メモリの全てのアドレスの内容を読み出して、特定のデータパターン?Aが書き込まれていることをチェックするように構成する。

請求項（抜粋）：

少なくとも、演算機構(ALU)(10) と、メモリ(2) とを備えたシステムにおいて、複数の繰り返しデータパターン (?@) のライト/リードで、上記メモリ(2) の診断を行う方式であって、上記複数のデータパターン (?@) を、該メモリ(2) の全てのアドレスにライトした後、該メモリ(2) の内容を読み出し、上記複数の次のデータパターン (?@)と上記演算機構(ALU)(10) で演算を行い、該演算結果を該メモリ(2) の全てのアドレスに書き込むことを、上記複数のデータパターン (?@) について繰り返した後、該メモリ(1) の全てのアドレスの内容を読み出して、特定のデータパターン(?A) が書き込まれていることをチェックすることを特徴とするメモリ診断方式。

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 特開平4-155554