特許

J-GLOBAL ID：200903097517158231

形状欠損の検査方法

発明者： 原 博 ,  青田 義久 ,  法覚 健 ,  吉田 隆夫
出願人/特許権者： 住友電気工業株式会社
代理人 (1件)： 深見 久郎 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-279820
公開番号（公開出願番号）：特開平6-129829
出願日： 1992年10月19日
公開日（公表日）： 1994年05月13日
要約：

【要約】【目的】 外観形状における欠損の検査方法において、望まれる精度で迅速かつ容易に欠陥の存否を判断し得る方法を提供することを目的とする。【構成】 形状欠損の検査方法は、輪郭線に沿った参照点の1つを基準点に選び、その基準点と他の参照点とによって微小三角形を順次形成し、微小三角形の重心が輪郭線の外側にあるものの面積の和を欠損面積として求め、その欠損面積と予め定められた欠損規格面積との対比によって欠損の存否を判定する。

請求項（抜粋）：

被検査対象物の画像の輪郭線情報を2値情報化し、前記輪郭線の形状から前記対象物の形状欠損を検査する方法において、前記輪郭線に沿って複数の参照点を配置し、前記参照点の1つを基準点に選び、前記基準点と他の前記複数の参照点とによって互いに隣接する複数の微小三角形を順次形成し、前記微小三角形のうちのその重心が前記輪郭線の外側にある前記微小三角形のみの面積の和を欠損面積として求め、前記欠損面積を予め定められた欠損規格面積範囲と照合することによって前記被検査対象物の合否を判定することを特徴とする形状欠損の検査方法。

IPC (4件)：

G01B 11/24 ,  G01N 21/88 ,  G06F 15/62 400 ,  G06F 15/70 330