特許

J-GLOBAL ID：200903097540373824

沈下測定方法

発明者： 稲葉 富男
出願人/特許権者： 株式会社エス・ジー・エス
代理人 (1件)： 杉本 勝徳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-023708
公開番号（公開出願番号）：特開2004-233245
出願日： 2003年01月31日
公開日（公表日）： 2004年08月19日
要約：

【課題】レーザー測距手段の位置を、高いタワー上に設定することなく、非平行に沈下した場合でも測定対象面の沈下量を正確に計測する技術および、移動式のレーザー測距手段を用いた技術を提案すること。【解決手段】本発明の沈下測定方法は、レーザー光を沈下測定対象面に斜めに照射して、前記沈下測定対象面による反射光を測定することによってレーザー光が照射される測定ポイントまでの斜め距離と鉛直角をレーザー測距手段を用いて複数回測距し、複数回の測定による斜め距離と鉛直角とに基づいて前記沈下測定対象面の沈下の有無を測定する沈下測定方法において、複数回の測定毎に、前記レーザー測距手段を、沈下測定対象面外の非沈降領域に設定された前回の測定時と同一位置もしくはその近傍に配置し、レーザー光の照射方向を、前回の測定時と同じ方向に設定し、前記測定ポイントまでの斜め距離もしくは水平距離が前回の測定時と同一もしくはほぼ同じ距離である場合には、前記測定ポイントの沈下が無いと判定するか、もしくは微小であると判定する。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

レーザー光を沈下測定対象面に斜めに照射して、前記沈下測定対象面による反射光を測定することによってレーザー光が照射される測定ポイントまでの斜め距離と鉛直角をレーザー測距手段を用いて複数回測距し、 複数回の測定による斜め距離と鉛直角とに基づいて前記沈下測定対象面の沈下の有無を測定する沈下測定方法において、 複数回の測定毎に、 前記レーザー測距手段を、沈下測定対象面外の非沈降領域に設定された前回の測定時と同一位置もしくはその近傍に配置し、 レーザー光の照射方向を、前回の測定時と同じ方向に設定し、 前記測定ポイントまでの斜め距離もしくは水平距離が前回の測定時と同一もしくはほぼ同じ距離である場合には、前記測定ポイントの沈下が無いと判定するか、もしくは微小であると判定することを特徴とする沈下測定方法。

IPC (1件)：

G01C15/00

FI (2件)：

G01C15/00 103A ,  G01C15/00 104Z

Fターム (4件)：

2D053AA32 ,  2D053AB01 ,  2D053AD01 ,  2D053FA03

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 沈下測定方法、及び沈下測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-248945   出願人：株式会社エス・ジー・エス