特許
J-GLOBAL ID:200903097568982044
液晶表示パネルの画像検査方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
早瀬 憲一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-343397
公開番号(公開出願番号):特開2003-149617
出願日: 2001年11月08日
公開日(公表日): 2003年05月21日
要約:
【要約】【課題】 液晶表示パネル内のレスキュー配線とソース配線の交差部分に生じた微少なショート不良を従来と同じ目視による画像検査だけで確実に検出して識別することができる画像検査方法、画像検査装置およびショート不良解析方法を提供することを目的とする。【解決手段】 レスキュー配線1b上に任意の容量負荷10を接続した状態で画像検査を行う。
請求項(抜粋):
ソースICと、前記ソースICに接続されたソース配線と、前記ソースICの給電側および非給電側で前記ソース配線と直交する形で形成され、前記ソース配線の断線不良を救済するレスキュー配線と、を有する液晶表示パネルの画像検査方法において、前記レスキュー配線上に容量負荷を接続した状態で前記液晶表示パネルに所要の検査パターンを表示させる画像検査を行うことを特徴とする液晶表示パネルの画像検査方法。
IPC (4件):
G02F 1/13 101
, G01R 31/02
, G02F 1/1343
, G02F 1/1368
FI (4件):
G02F 1/13 101
, G01R 31/02
, G02F 1/1343
, G02F 1/1368
Fターム (10件):
2G014AA03
, 2G014AB21
, 2G014AB59
, 2G014AC18
, 2H088EA02
, 2H088FA13
, 2H088HA02
, 2H092JB68
, 2H092MA56
, 2H092NA30
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