特許
J-GLOBAL ID:200903097597917960
n型SiC用オーミック電極とその製造方法
発明者:
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
八田 幹雄 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-088069
公開番号(公開出願番号):特開平9-283738
出願日: 1996年04月10日
公開日(公表日): 1997年10月31日
要約:
【要約】【課題】 n型SiCのオーミック電極における接触抵抗の低減、耐熱安定性の向上を図る。【解決手段】 n型SiC1上にHf、Ta、TiもしくはZrの窒化物の単体または混合物2を配し、その上に窒素が暫時変化する遷移層3を配し、その上にHf、Ta、Ti、Zr、VもしくはWの単体または混合物4を配してなるオーミック電極。
請求項(抜粋):
n型SiC半導体装置のオーミック電極において、SiC上にHf、Ta、Ti若しくはZrの窒化物の単体または混合物からなる膜を配し、該膜上にHf、Ta、Zr、Ti、V若しくはWの単体または混合物からなる金属を配したことを特徴とするオーミック電極。
IPC (3件):
H01L 29/43
, H01L 21/28
, H01L 21/28 301
FI (5件):
H01L 29/46 R
, H01L 21/28 B
, H01L 21/28 301 F
, H01L 21/28 301 R
, H01L 29/46 F
前のページに戻る