特許
J-GLOBAL ID：200903097647046150
画面検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-317591
公開番号（公開出願番号）：特開平7-175442
出願日： 1993年12月17日
公開日（公表日）： 1995年07月14日
要約：
【要約】【目的】 液晶パネル上に表示されるドットマトリックスパターン内で、レベルが濃すぎたり、淡すぎたりした欠陥ドットを他の断線欠陥ドット、短絡欠陥ドットとともに検出を可能とする。【構成】 被検査物に発生させた全点灯パターンと全消灯パターンを光電変換スキャナ4で撮像し、A/D変換回路5でデジタル信号に変換し全点灯画像と全消灯画像を得る。比較回路8で比較画像を作成し、過淡欠陥2値化回路10、過濃欠陥2値化回路で濃淡欠陥、断線短絡欠陥の検出を行った後、欠陥検出比較回路12で1枚の画像に欠陥を合成し、画像切り出し回路13で基準パターンとの論理積をとり表示領域のみの切り出しを行う。この画像に対しノイズ除去回路でノイズの除去を行い、欠陥画像mを得る。領域抽出回路15で欠陥信号を抽出し、判定回路16において表示部の良否の判定を行う。
請求項（抜粋）：
被検査物に全点灯パターンを発生させる全点灯パターン発生回路と、前記被検査物に全消灯パターンを発生させる全消灯パターン発生回路と、前記全点灯パターン発生回路からの駆動信号により正常な全点灯表示パターンを発生し記憶する基準パターンメモリ回路と、前記被検査物に発生させたパターンを撮像するための光電変換スキャナと、この光電変換スキャナから出力される映像信号を入力してデジタル信号に出力するA/D変換回路と、前記全点灯パターン発生回路で前記被検査物を駆動した時の前記A/D変換回路からのデジタル信号を記憶する全点灯画像メモリ回路と、前記全消灯パターン発生回路で前記被検査物を駆動した時の前記A/D変換回路からのデジタル信号を記憶する全消灯画像メモリ回路と、前記全点灯パターンメモリ回路の内容と前記全消灯パターンメモリ回路の内容を比較する比較回路と、前記比較回路の出力の平滑化を行う平滑化回路と、前記平滑化回路の出力である平滑化画像を過淡欠陥、点灯欠陥、消灯欠陥を検出するレベルで2値画像に変換する過淡欠陥検出2値化回路と、前記平滑化画像を過濃欠陥を検出するレベルで2値画像に変換する過濃欠陥検出2値化回路と、前記過淡欠陥検出2値化回路の出力と前記過濃欠陥検出2値化回路の出力の比較を行う欠陥検出比較回路と、前記欠陥検出比較回路の出力と前記基準パターンメモリ回路と比較を行いドット表示部だけ切り出しを行い欠陥を検出し検査結果画像として出力する画像切り出し回路と、この検査結果画像からノイズを除去し欠陥画像を出力するノイズ除去回路と、この欠陥画像から抽出した欠陥領域の面積と位置情報の欠陥信号を出力する領域抽出回路とを備えることを特徴とする画面検査装置。
IPC (3件)：
G09G 3/36
, G01M 11/00
, G02F 7/00
