特許

J-GLOBAL ID：200903097658288015

画像による寸法測定方法

発明者： 相川 勝保 ,  中根 剛治
出願人/特許権者： 株式会社ニレコ
代理人 (1件)： 奈良 繁
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-080009
公開番号（公開出願番号）：特開平7-286822
出願日： 1994年04月19日
公開日（公表日）： 1995年10月31日
要約：

【要約】【目的】 画像処理装置により矩形の傾きを精度よく測定する。また矩形の幅を目視による測定と同じ程度に測定する。【構成】 略矩形の画像の重心を求め、この重心を通り走査線に直交する垂直線を設定し、この垂直線に直交して間隔hで第1線と第2線を引き、第1線と略矩形の交点をA,B、第2線と略矩形の交点をC,Dとし、四辺形ABCDの面積A1を求め、各交点A,B,C,Dより相手の第1線,第2線へ垂線を引き、両端の垂線と第1線、第2線とで囲まれる面積をA0とし、θ=tan-1(A0-A1)/h2 ......(1)(1)式で表されるθを略矩形の重心を通り長辺の方向を示す中心線と垂直線とのなす角度とする。

請求項（抜粋）：

略矩形の画像の重心を求め、この重心を通り走査線に直交する垂直線を設定し、この垂直線に直交して間隔hで第1線と第2線を引き、第1線と略矩形の交点をA,B,第2線と略矩形の交点をC,Dとし、四辺形ABCDの面積A1を求め、各交点A,B,C,Dより相手の第1線、第2線へ垂線を引き両端の垂線と第1線及び第2線とで囲まれる面積をA0とし、θ=tan-1(A0-A1)/h2 ......(1)(1)式で表されるθを略矩形の重心を通り長辺の方向を示す中心線と垂直線とのなす角度とすることを特徴とする画像による寸法測定方法。

IPC (3件)：

G01B 11/02 ,  G06T 1/00 ,  G06T 7/60

FI (2件)：

G06F 15/62 380 ,  G06F 15/70 350 Z