特許
J-GLOBAL ID：200903097662100055
質量分析スペクトルの解析システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
小川 勝男
, 田中 恭助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-050485
公開番号（公開出願番号）：特開2004-257922
出願日： 2003年02月27日
公開日（公表日）： 2004年09月16日
要約：
【課題】タンデム型質量分析装置における測定スループットの向上と試料同定精度の向上。【解決手段】測定対象となるイオン種の選択と解離および測定をn段階繰り返すタンデム型質量分析装置を用いた質量分析スペクトル解析システムにおいて、MSn-1(n≧2)のスペクトル解析結果の質量電荷比(m/z値)に基づき、MSnで測定すべきイオン種を選定し、これを必要とする数のアミノ酸配列が決定するまで繰り返す。【選択図】 なし
請求項（抜粋）：
質量分析装置の測定対象となる物質をイオン化し、生成したイオン種の中から特定の質量数のイオン種を選択して解離させ、更に、測定対象となるイオン種の選択と解離および測定をn段階繰り返すタンデム型質量分析装置を用いた質量分析スペクトル解析システムにおいて、
n段階目のタンデム質量分析を実施するか否かを、n-1段階目のスペクトル測定により得られた全ての質量対電荷比(m/z)のピークに基づき決定することを特徴とする質量分析スペクトル解析システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (2件)：
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