特許
J-GLOBAL ID：200903097678369143
金属箔マーカによるひずみ計測方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
穂上 照忠
, 杉岡 幹二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-108651
公開番号（公開出願番号）：特開2005-291979
出願日： 2004年04月01日
公開日（公表日）： 2005年10月20日
要約：
【課題】酸化しない金属箔を被測定金属材料表面に溶接し、高温での材料の微小変形をその金属箔のスペックルパタ-ン計測で求める方法における、計測精度向上方法の提供。【解決手段】金属箔と被測定部材との間に両者とは異なる金属層、たとえば、厚さ0.04〜0.1mmのニッケル層を介在させて厚さ0.1〜0.5mmの白金箔を溶接することにより、白金箔と被測定部材との溶接密着性を向上させて変形による剥離を抑止し、高温使用時の被測定部材の変形の測定精度を改善したひずみ計測方法。【選択図】なし。
請求項（抜粋）：
金属箔を被測定材表面に溶接し、被測定材の微少変形を該金属箔の変形から光学的に検出する方法であって、箔には耐酸化性のすぐれた金属を用い、金属箔と被測定材との間に両者とは異なる金属層を介在させて溶接し、高温使用時の被測定材の変形をその金属箔表面の変形により検出することを特徴とするひずみ計測方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (5件)：
2F065AA65
, 2F065CC06
, 2F065FF56
, 2F065JJ03
, 2F065PP11
