特許

J-GLOBAL ID：200903097695511859

光スペクトル測定方法及びその装置

発明者： 日隈 薫 ,  森 慎吾 ,  橋本 義浩 ,  市川 潤一郎
出願人/特許権者： 住友大阪セメント株式会社
代理人 (2件)： 杉村 純子 ,  田村 爾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-037456
公開番号（公開出願番号）：特開2004-245750
出願日： 2003年02月14日
公開日（公表日）： 2004年09月02日
要約：

【課題】簡単な構造で多波長光を発生でき、しかも高分解能な光スペクトル測定・分析を可能とする光スペクトル測定方法及びその装置を提供すること。【解決手段】波長を変更可能な測定用光を発生する手段と、該測定用光を被検体8に照射し、該被検体からの透過光又は反射光を検出する検出手段9とを有する光スペクトル測定装置において、前記波長を変更可能な測定用光を発生する手段は、特定の波長を有する基準光を発生する光源1と、該基準光の波長をシフトさせるSSB変調器3とを備えることを特徴とする。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

波長を変更可能な測定用光を被検体に照射し、該被検体からの透過光又は反射光を検出することにより被検体のスペクトル特性を測定する光スペクトル測定方法において、 前記波長を変更可能な測定用光を発生する方法は、特定の波長を有する基準光をSSB変調器を介して変調することにより波長をシフトさせ、測定用光を発生することを特徴とする光スペクトル測定方法。

IPC (4件)：

G01J3/10 ,  G01N21/01 ,  G01N21/27 ,  H04B10/00

FI (4件)：

G01J3/10 ,  G01N21/01 D ,  G01N21/27 Z ,  H04B9/00 Z

Fターム (34件)：

2G020BA02 ,  2G020CA13 ,  2G020CB04 ,  2G020CB05 ,  2G020CB23 ,  2G020CB42 ,  2G020CB51 ,  2G020CD03 ,  2G020CD12 ,  2G020CD13 ,  2G020CD22 ,  2G059AA02 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG03 ,  2G059GG05 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ18 ,  2G059KK01 ,  2G059MM14 ,  5K102AA15 ,  5K102AD01 ,  5K102AH00 ,  5K102AH05 ,  5K102PB01 ,  5K102PH02 ,  5K102PH22 ,  5K102PH31 ,  5K102RD05

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭56-043537
  
• 特開平4-015542
  
• 赤外線レーザ成分検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-105513   出願人：財団法人応用光学研究所
• 特開平4-031745
  

引用文献：

審査官引用 (3件)

• “XカットLiNbO3を用いた光周波数シフタ/SSB-SC変調器の開発”
• “Integrated Optical SSB ModuIator/Frequency Shifter”
• “光SSB変調器を利用した高精度光スペクトル測定”