特許

J-GLOBAL ID：200903097718334666

デューティ測定回路

発明者： 関 昇平 ,  山田 浩幸 ,  小川 康徳
出願人/特許権者： 沖電気工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 敏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-067602
公開番号（公開出願番号）：特開平8-262081
出願日： 1995年03月27日
公開日（公表日）： 1996年10月11日
要約：

【要約】【目的】 簡単な回路構成で、短時間にしかも自動的に測定可能なデューティ測定回路を提供する。【構成】 被測定パルス信号のハイレベルを抽出するハイレベル抽出回路2と、被測定パルス信号のローレベルを抽出するローレベル抽出回路3と、被測定パルス信号の平均レベルを抽出する平均レベル抽出回路4と、抽出したハイレベルとローレベルとの中間レベルを任意の比率で抽出する分割抵抗器5と、この分割抵抗器5で抽出される中間レベルと平均レベル抽出回路4で抽出される平均レベルと比較出力するコンパレータ6とを備え、被測定パルス信号の平均レベルがハイレベルとローレベルの間のどの位置にあるかを検出することで、入力パルス信号のデューティ比を測定する。

請求項（抜粋）：

周期的なパルス信号のデューティを測定するデューティ測定回路において、被測定パルス信号のハイレベルを抽出するハイレベル抽出回路と、被測定パルス信号のローレベルを抽出するローレベル抽出回路と、被測定パルス信号の平均レベルを抽出する平均レベル抽出回路と、抽出したハイレベルとローレベルとの中間レベルを任意の比率で抽出する中間レベル抽出手段と、この手段で抽出される中間レベルと前記平均レベル抽出回路で抽出される平均レベルと比較出力するレベル比較手段とを具備するデューティ測定回路。

IPC (3件)：

G01R 29/02 ,  H03K 5/19 ,  H03K 5/04

FI (3件)：

G01R 29/02 C ,  H03K 5/19 T ,  H03K 5/04

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭63-236975
  
• 特開昭61-071715
  
• 特開昭63-236975
  
• 特開昭61-071715