特許
J-GLOBAL ID:200903097775172621
MALDI質量分析法のためのマトリックス干渉の軽減
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
山本 秀策
, 安村 高明
, 森下 夏樹
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-523898
公開番号(公開出願番号):特表2007-502980
出願日: 2004年08月09日
公開日(公表日): 2007年02月15日
要約:
本教示は、分子のマトリックス支援レーザー脱離イオン化(MALDI)質量分析法のために有用なプレートおよびそのプレートを作製するためのプロセスに関する。疎水性コーティングおよびMALDIマトリックス材料とポリマーのような境界剤との混合物の薄膜コーティングを含む複合コーティングを備える、MS分析またはMS-MS分析のために適したMALDIプレートが開示される。本教示に従って作製されるMALDIプレートは、MALDI-MSスペクトルの低質量領域(1,000ダルトン未満)におけるマトリックスイオンの抑制のために有用である。
請求項(抜粋):
MALDI分析のためのサンプルプレートであって、該サンプルプレートは、第一の表面を有する導電性の基板を備え、該第一の表面の少なくとも一部が、疎水性コーティングおよびマトリックスと境界ポリマーとの薄膜混合物のコーティングを含む複合コーティングでコーティングされている、サンプルプレート。
IPC (2件):
FI (3件):
G01N27/62 F
, H01J49/16
, G01N27/62 V
Fターム (16件):
2G041CA01
, 2G041DA04
, 2G041DA05
, 2G041DA18
, 2G041EA01
, 2G041EA04
, 2G041FA07
, 2G041GA03
, 2G041GA06
, 2G041GA08
, 2G041GA09
, 2G041HA01
, 2G041JA06
, 2G041JA07
, 2G041JA08
, 5C038GG07
引用特許: