特許

J-GLOBAL ID：200903097812033254

半導体集積回路装置

発明者： 足立 理恵 ,  吉岡 博志 ,  嬉野 和久
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  株式会社日立超エル・エス・アイ・システムズ
代理人 (1件)： 筒井 大和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-044549
公開番号（公開出願番号）：特開2000-251496
出願日： 1999年02月23日
公開日（公表日）： 2000年09月14日
要約：

【要約】【課題】 電流計などの測定機器を用いることなく、確実にベンダテストモードが設定された際の判別を行う。【解決手段】 バーンインテストを行うベンダテストモードが設定された場合、テスト制御回路からHiレベルのテスト入力信号TBINがノーマル/バーンイン信号出力回路10に出力され、インバータ13がフローティング状態となり、インバータ16がインバータ動作するので、センスアンプから出力されたデータMO0はインバータ15〜17を介して書き込まれたデータの反転データとして出力バッファに出力される。この反転データをバーンインテスタがモニタし、バーンインテストモードの設定が行われたことを判定する。

請求項（抜粋）：

テスト制御信号が入力された際に読み出されたデータを反転して出力バッファに出力するデータ制御手段を備えたことを特徴とする半導体集積回路装置。

IPC (6件)：

G11C 29/00 671 ,  G11C 29/00 ,  G01R 31/28 ,  G11C 11/401 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822

FI (6件)：

G11C 29/00 671 T ,  G11C 29/00 671 F ,  G01R 31/28 V ,  G01R 31/28 B ,  G11C 11/34 371 A ,  H01L 27/04 T

Fターム (24件)：

2G032AA07 ,  2G032AB02 ,  2G032AE11 ,  2G032AG01 ,  2G032AG07 ,  2G032AK11 ,  2G032AK14 ,  5B024AA15 ,  5B024BA29 ,  5B024CA07 ,  5B024EA04 ,  5F038BE04 ,  5F038BE05 ,  5F038BG03 ,  5F038CD08 ,  5F038DF05 ,  5F038DF14 ,  5F038DT02 ,  5F038DT05 ,  5F038DT10 ,  5L106AA01 ,  5L106DD11 ,  5L106DD35 ,  5L106GG02