特許
J-GLOBAL ID：200903097927837128

マーク認識システム

発明者：
奥村 寿浩

奥村 寿浩 について

, 
小池 学

小池 学 について

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畔柳 雅明

畔柳 雅明 について


出願人/特許権者：
株式会社デンソー

株式会社デンソー について


代理人 (2件)： 恩田 博宣 ,  恩田 誠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-107476
公開番号（公開出願番号）：特開2006-287104
出願日： 2005年04月04日
公開日（公表日）： 2006年10月19日
要約：
【課題】 識別用の文字列を撮像して認識する際に文字列について正しく認識することができるマーク認識システムを提供する。【解決手段】 画像認識装置30は撮像した画像から、識別マークの識別用文字列および誤り検出用コードを解読する。パソコン40は解読した識別マークの誤り検出用コードを用いて、解読した識別用文字列について正誤判定し、正誤判定結果が誤りであると、解読した識別用文字列について識別用文字列を構成する文字群の一部を他の文字と入れ替えて訂正する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
管理対象としている物品に付され、かつ、識別用文字列および誤り検出用情報を有する識別マークと、 前記識別マークを撮像する撮像手段と、 前記撮像手段により撮像した画像から、前記識別マークの識別用文字列および誤り検出用情報を解読する解読手段と、 前記解読手段により解読した識別マークの誤り検出用情報を用いて、解読した識別用文字列について正誤判定する正誤判定手段と、 前記正誤判定手段による正誤判定結果が誤りであると、解読した識別用文字列について識別用文字列を構成する文字群の一部を他の文字と入れ替えて訂正する訂正手段と、 を備えたことを特徴とするマーク認識システム。
IPC (2件)：
H01L 21/02 ,  G06K 9/03
FI (2件)：
H01L21/02 A ,  G06K9/03 Z
Fターム (6件)：
5B064AA05 ,  5B064AB08 ,  5B064AB13 ,  5B064BA01 ,  5B064EA08 ,  5B064EA25
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • ウェハ認識装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-229545   出願人：富士通株式会社, 株式会社九州富士通エレクトロニクス
審査官引用 (3件)
  • レーザマーク装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-060446   出願人：株式会社日立製作所, アキタ電子株式会社
  • ウェハ認識装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-229545   出願人：富士通株式会社, 株式会社九州富士通エレクトロニクス
  • 特開平2-217185

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