特許

J-GLOBAL ID：200903097959329566

センサ異常の検出方法及び検出装置

発明者： 坪田 浩治
出願人/特許権者： 日新電機株式会社
代理人 (1件)： 江原 省吾 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-008066
公開番号（公開出願番号）：特開2002-214185
出願日： 2001年01月16日
公開日（公表日）： 2002年07月31日
要約：

【要約】【課題】 アナログ状態変化に相関性がある複数のプロセスを計測する複数のセンサの異常を、計測値が正常時の相関から外れたことにより検出するものとして、構成が簡単で計測値の相関を的確に捉えるものを提供し検出精度を高める。【解決手段】 各センサ毎にブロック化するための複数のしきい値を持ち、各センサの計測信号が、どのブロックに属するか決定するブロック判定手段4と、正常のセンサの計測信号が属するブロックの相関関係を、正常と判定できる確度と共に記憶した正常判定用データの記憶部6と、ブロック判定手段4によって判定された各センサのブロックの相関を、記憶部5に記憶された相関関係と照合して、センサが正常であるとき判定できる確度と共に出力するセンサ良否判定手段6を持つ。

請求項（抜粋）：

アナログ状態変化に相関性がある複数のプロセスを、それぞれ計測する複数のセンサの異常検出方法であって、各センサの計測信号の出力範囲を、センサ毎に定めたいくつかのしきい値によりブロックに区分し、センサが正常なときに各計測信号が属するブロックの相関関係を予め調べておき、実計測時に、各センサの計測値が属するブロックの相関関係が、予め調べておいた正常時の相関関係から外れたとき、センサの異常として検出することを特徴とするセンサ異常の検出方法。

IPC (4件)：

G01N 27/26 391 ,  G01D 21/00 ,  G05B 23/02 302 ,  C02F 1/00 ZAB

FI (4件)：

G01N 27/26 391 Z ,  G01D 21/00 Q ,  G05B 23/02 302 J ,  C02F 1/00 ZAB V

Fターム (6件)：

2F076BA13 ,  2F076BA16 ,  2F076BD13 ,  5H223AA01 ,  5H223AA15 ,  5H223EE02