特許

J-GLOBAL ID：200903097964714516

疵検査装置

発明者： 岩田 穣 ,  堀 光夫 ,  中山 登 ,  竹松 義明 ,  加藤 敏春
出願人/特許権者： 住友金属工業株式会社 ,  オムロン株式会社
代理人 (1件)： 和田 成則
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-347247
公開番号（公開出願番号）：特開平5-322791
出願日： 1991年12月27日
公開日（公表日）： 1993年12月07日
要約：

【要約】【目的】 疵の目視検査を行うオペレータの負担を軽減すると共に、正確な疵の情報を検査結果として表示する。【構成】 表面及び裏面検査部1a,1bのイメージセンサからの検出信号に基づき疵の検出データが表面及び裏面検出部30a,30bにより作成される。この検出データは、長さ判別部31a,31bにより疵の長さに基づいて判別された検出データとなってCRT21a,21bに表示されると共に、検出コントロール部32にロギングされる。また、オペレータがタッチパネル22a,22bを操作することにより目視データが入力コントロール部33にロギングされると共に、この目視データと上記検出データとが監視部コントローラ40により比較される。この比較結果が検査結果として上記CRT21a,21bに表示されると共に、検査表印字部41が検査表に検査結果を印字する。

請求項（抜粋）：

被検査物の被検査面に存在する疵をセンサが検出すると共に、このセンサからの検出信号に基づき検出部が上記疵の検出データを作成し、この検出データをCRTが疵の目視検査を行うオペレータに対して表示する疵検査装置において、上記オペレータによる疵の目視検査結果を目視データとして出力する出力手段と、上記出力手段から出力される目視データと上記検出部で作成された検出データとを比較する比較手段と、上記比較手段による比較結果を表示する表示手段と、を具備することを特徴とする疵検査装置。

IPC (3件)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/30 ,  G01N 21/89

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭60-207004
  
• 特開昭61-012341