特許
J-GLOBAL ID:200903097969050101
物体入力装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
蔦田 璋子 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-045256
公開番号(公開出願番号):特開平6-258048
出願日: 1993年03月05日
公開日(公表日): 1994年09月16日
要約:
【要約】【目的】 観測空間内に被観測物体を配し、該被観測物体の3次元形状情報等を取り込む物体入力装置において、従来の物体入力装置における欠測点への対応不十分、不要情報の排除における繁雑さ、不可視部分の存在などの問題を解決し、より利便性の向上した物体入力装置を提供することである。【構成】 前記観測空間内の空間情報である距離分布と質感分布と背景分布のうち少なくとも背景分布が計測可能な観測手段1と、該空間情報から被観測物体に関する物体情報として少なくとも前記被観測物体の3次元形状情報を構築する演算手段2とよりなり、前記観測手段が、前記被観測物体を支持するための支持手段を具備し、かつ、該支持手段が前記観測手段に対して不可視となるような材質または構造で構成される。
請求項(抜粋):
観測空間内に被観測物体を配し、該被観測物体の3次元形状情報等を取り込む物体入力装置であって、前記観測空間内の空間情報である距離分布と質感分布と背景分布のうち少なくとも背景分布が計測可能な観測手段と、該空間情報から被観測物体に関する物体情報として少なくとも前記被観測物体の3次元形状情報を構築する演算手段とよりなり、前記観測手段が、前記被観測物体を支持するための支持手段を具備し、かつ、該支持手段が前記観測手段に対して不可視となるような材質または構造で構成されることを特徴とする物体入力装置。
IPC (3件):
G01B 11/24
, G06F 15/62 415
, G06F 15/64
引用特許:
審査官引用 (6件)
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特開平2-217969
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特開平4-180385
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特開平2-223809
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光学式形状測定方法及び装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-207936
出願人:株式会社アイ・エヌ・アール研究所
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特開平4-151988
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特開昭60-221872
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