特許
J-GLOBAL ID：200903098035156637
配線パターン検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-225917
公開番号（公開出願番号）：特開平5-060536
出願日： 1991年09月05日
公開日（公表日）： 1993年03月09日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 プリント基板の配線パターンの、欠陥検出を行う前に細線化、線分抽出、端点除去及び膨張などの手段を用いて信号線の領域と電源・グランドの領域を分離し、信号線の領域のみで欠陥検出を行える配線パターン検査装置を実現する。【構成】 プリント基板の配線パターン検査装置における2値画像において、一定の段数だけ細線化しゅだん103で細線化して線分を線分抽出手段104により抽出し、端点除去手段105で端点を除去して第1の膨張手段106により膨張処理した画像と、細線化画像の論理積を論理積手段108でとり、さらに膨張処理を第2の膨張手段109で施すことにより、信号線の領域を得、その信号線の領域でのみ欠陥を検出を行える。
請求項（抜粋）：
プリント基板上に形成された配線パターンを光学的に検知し、光電変換する画像入力手段と、前記画像入力手段からの濃淡画像を2値画像に変換する2値化手段と、前記2値化手段からの2値画像を背景側から任意のm画素細める細線化手段と、前記細線化手段により得られる細線化画像から1画素幅の線分を抽出する線分抽出手段と、前記線分抽出手段から得られる線分の端点を任意のn画素除去する端点除去手段と、前記端点除去手段により端点を除去した線分を膨張する第1の膨張手段と、前記細線化手段からの細線化画像と前記第1の膨張手段により得られた2値画像との論理積を取ることにより信号線のパターンの芯線のみを抽出する論理積手段と、前記論理積手段により得られた信号線のパターンの芯線を膨張して信号線の領域を検出する第2の膨張手段と、前記第2の膨張手段により得られた領域で配線パターンの欠陥を検出する欠陥検出手段とを具備した配線パターン検査装置。
IPC (5件)：
G01B 11/24
, G01N 21/88
, G06F 15/62 405
, G06F 15/66 400
, H05K 3/00
