特許
J-GLOBAL ID：200903098039988807
流速測定方法及び装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐々木 宗治 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-338921
公開番号（公開出願番号）：特開2000-162227
出願日： 1998年11月30日
公開日（公表日）： 2000年06月16日
要約：
【要約】【課題】 移動する導電性の測定対象物の測定面に磁場を励磁し、測定対象物による誘導磁場を検出し、この検出した磁場信号から測定対象物の流速を測定する際に、測定面の変動によるリフトオフの変化や波立ちの影響を受けないで測定する方法及び装置。【解決手段】 測定対象物4の測定面の変動を抑えて平坦面を形成する固定板12を有する。
請求項（抜粋）：
移動する導電性の測定対象物の測定面に相対する位置から前記測定対象物の測定面に磁場を励磁して測定対象物による誘導磁場を検出し、この検出した磁場信号から前記測定対象物の流速を測定する流速測定方法において、前記測定対象物の測定面の変動を抑えた平坦面を形成し、この平坦面に磁場を励磁して前記測定対象物の流速を測定することを特徴とする流速測定方法。
IPC (2件)：
G01P 5/08
, B22D 11/16 104
G01P 5/08 B
, B22D 11/16 104 D
