特許

J-GLOBAL ID：200903098048740818

試験データ集計システム

発明者： 濱田 孝治
出願人/特許権者： 株式会社エイチ・アンド・ティー ,  濱田 孝治
代理人 (1件)： 森本 直之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-311375
公開番号（公開出願番号）：特開2001-134674
出願日： 1999年10月18日
公開日（公表日）： 2001年05月18日
要約：

【要約】【課題】入力データの変更履歴を残すことにより、何らかの理由で入力データの変更の必要が生じたとしても、GLP等を保証することができる試験データ集計システムを提供する。【解決手段】試験の結果得られたデータを入力するデータ入力手段3と、入力されたデータを格納する入力データ格納部4と、この入力データ格納部4に格納されたデータを変更したときの履歴を格納するデータ変更履歴格納部8を備えたことにより、入力データの変更履歴を残すことにより、何らかの理由で入力データの変更の必要が生じたとしても、GLP等を保証することができるようになる。

請求項（抜粋）：

試験の結果得られたデータを集計する試験データ集計システムであって、データを入力するデータ入力手段と、入力されたデータを格納する入力データ格納部と、この入力データ格納部に格納されたデータを変更したときの履歴を格納する履歴格納部を備えていることを特徴とする試験データ集計システム。

IPC (3件)：

G06F 17/60 152 ,  G06F 17/60 126 ,  G06F 17/40 330

FI (3件)：

G06F 17/60 152 ,  G06F 17/60 126 Z ,  G06F 17/40 330 Z