特許
J-GLOBAL ID：200903098061089689

イオントラップにイオンを捕らえるための方法およびそのためのイオントラップ質量分光計システム

発明者：
モルデハイ、アレックス

モルデハイ、アレックス について


出願人/特許権者：
バリアン・アソシエイツ・インコーポレイテッド

バリアン・アソシエイツ・インコーポレイテッド について


代理人 (1件)： 竹内 澄夫 (外1名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-508763
公開番号（公開出願番号）：特表平11-513187
出願日： 1997年02月18日
公開日（公表日）： 1999年11月09日
要約：
【要約】イオンの飛行経路を長くすることにより、イオントラップ内にイオンを捕獲するための方法および質量分光計システムである。イオンビームは、外部のイオン源により生成され、イオントラップからのイオンビームの出口領域の近くに少なくとも一つの捕獲電極を含むイオントラップへと向かう。イオントラップ内にイオンを保持するために、イオン蓄積時間の間、フリンジ反射場を生成するように、捕獲電極に対して減速DC電圧が印加される。
請求項（抜粋）：
イオンを捕獲するための改良されたイオントラップ質量分光計システムであって、 イオンビームを生成するための外部のイオン源、 イオン蓄積時間の間にイオンビームが入射し、該イオンビームの軸線に沿って間隔をあけた入口および出口領域を有するイオントラップ、 前記出口領域の近くに配置された、少なくとも一つの捕獲電極、および 蓄積時間の間、前記イオントラップ内にフリンジ減速場をつくり、前記イオントラップ内にイオンを保持するために、前記捕獲電極に減速DC電圧を印加し、検出時間の間、前記捕獲電極に対してバイアスDC電圧を印加するための電源、 を含む、 をところの改良されたイオントラップ質量分光計システム。
IPC (2件)：
H01J 49/42 ,  H01J 49/34
FI (2件)：
H01J 49/42 ,  H01J 49/34
引用特許：
審査官引用 (4件)
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