特許
J-GLOBAL ID:200903098072918415

磁性体濃度計測装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 山田 恒光 ,  大塚 誠一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-316417
公開番号(公開出願番号):特開2005-083897
出願日: 2003年09月09日
公開日(公表日): 2005年03月31日
要約:
【課題】外乱の影響を取り除くことにより正しく補正して連続的に計測し得ると共に、低コストに構成し得る磁性体濃度計測装置を提供する。【解決手段】流体中の磁性体濃度に対応する周波数の変化を検出し得るよう流体の近傍もしくは流体内に第一コイル5を配した実測用のLC発振回路1と、流体中の磁性体の影響を受けない位置もしくは流体中の磁性体の影響が少ない位置に第二コイル6を配した補正用のLC発振回路2と、実測用のLC発振回路1の発振周波数と補正用のLC発振回路2の発振周波数とから計測データの差を求めて磁性体の濃度に換算する処理手段3とを備える。【選択図】図1
請求項(抜粋):
流体中の磁性体濃度に対応する周波数の変化を検出し得るよう流体の近傍もしくは流体内に第一コイルを配した実測用のLC発振回路と、流体中の磁性体の影響を受けない位置もしくは流体中の磁性体の影響が少ない位置に第二コイルを配した補正用のLC発振回路と、実測用のLC発振回路の発振周波数と補正用のLC発振回路の発振周波数とから計測データの差を求めて磁性体の濃度に換算する処理手段とを備えたことを特徴とする磁性体濃度計測装置。
IPC (3件):
G01R33/02 ,  G01N27/00 ,  G01N27/74
FI (3件):
G01R33/02 D ,  G01N27/00 Z ,  G01N27/74
Fターム (19件):
2G017AA01 ,  2G017AD02 ,  2G017AD51 ,  2G053BA04 ,  2G053BA06 ,  2G053BB01 ,  2G053CA19 ,  2G053CB09 ,  2G053CB13 ,  2G053CB22 ,  2G053DB05 ,  2G060AA01 ,  2G060AA10 ,  2G060AA18 ,  2G060AE20 ,  2G060AF20 ,  2G060HA02 ,  2G060HC01 ,  2G060HC10
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (4件)
  • 特開昭62-093654
  • 特開平2-131839
  • 特開昭62-093654
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