特許
J-GLOBAL ID：200903098183693226
イオン源を質量分析装置に結合するためのアセンブリ-
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 稔 (外9名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-267974
公開番号（公開出願番号）：特開2000-106126
出願日： 1999年09月22日
公開日（公表日）： 2000年04月11日
要約：
【要約】【課題】 本発明の目的は、毛細管(22)のサンプリングオリフィス(23)がイオン源(11)の照準線からはずれた毛細管を提供することにある。【解決手段】 イオンを大気圧イオン化源(11)から、イオン源に間接的に結合された入力オリフィス(23)を有する毛細管を含む分析器(12)に透過させるイオン透過システム。
請求項（抜粋）：
イオン源と向い合った入力オリフィスをもった細長い軸線方向の毛細管通路を有する毛細管と、毛細管の端に固定されるように構成され、かつ前記オリフィスから前記イオン源への直接的な照準線を邪魔するアダプターと、を含み、それにより、液滴及び不揮発性材料が入力オリフィスからそれて、前記イオン源からのイオンが入力オリフィスに間接的に結合し、それにより、前記オリフィスの汚染を最小にする、大気圧イオン源から質量分析装置にイオンを透過させるためのイオン透過システム。
IPC (3件)：
H01J 49/06
, H01J 49/26
, G01N 27/62
H01J 49/06
, H01J 49/26
, G01N 27/62 G
