特許
J-GLOBAL ID：200903098189780201
メモリの初期診断回路
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-133110
公開番号（公開出願番号）：特開平6-095978
出願日： 1992年05月26日
公開日（公表日）： 1994年04月08日
要約：
【要約】【目的】中央処理装置が立ち上がる前、マイクロプログラムメモリの初期診断をハードウェア的に実施し、動作不能時の原因の切り分けを行う。またメモリ診断エラー時、不良メモリの特定をし、修復を簡単にする。【構成】中央処理装置1の内部にCPUユニットが動作する前にメモリ初期診断を行うためのハードウェアとしてアドレス生成回路23を持つ。アドレスとデータを生成してマイクロプログラムメモリに書き込んだ後、再びマイクロプログラムメモリからデータを読み出し、データ比較回路25にて期待値と一致するかどうか比較を行なう。不一致が検出された場合には、複数のマイクロプログラムメモリのうちどのメモリが不良であったかをメモリ不良情報記憶回路27に格納し、中央え理装置1は、メモリ初期診断エラーの有無、エラー発生時には、不良メモリの特定を行い外部に通知する。
請求項（抜粋）：
コーディングされたマイクロ命令を中央処理装置が演算できるよう簡単なマイクロ命令1ないしは複数によって実現し、該マイクロ命令の集合体であるマイクロプログラムを格納するためのマイクロプログラムメモリを持つ電子計算機のメモリの初期診断回路において、該マイクロプログラムメモリの全領域を順次アクセスするためにアドレスを生成するアドレス生成回路と、該マイクロプログラムメモリに書き込む診断用のデータを生成するデータ生成回路と、該マイクロプログラムメモリから読んで来たデータと期待値が一致するかどうかのを検出を行うデータ比較回路と、該データ比較回路の検出結果によって該マイクロプログラムメモリの不良の有無を判断し外部に対して該マイクロプログラムメモリの不良の発生を通知するマイクロプログラムメモリ不良通知回路と、該マイクロプログラムメモリの読み書きの制御,該アドレス生成回路および該データ生成回路の制御を行う初期メモリ診断制御回路とを含むことを特徴とするメモリの初期診断回路。
IPC (2件)：
G06F 12/16 330
, G06F 9/22 380
