特許

J-GLOBAL ID：200903098208690430

静電荷像現像剤

発明者： 井口 良範 ,  桑田 敏
出願人/特許権者： 信越化学工業株式会社
代理人 (1件)： 山本 亮一 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-148831
公開番号（公開出願番号）：特開平5-323653
出願日： 1992年05月15日
公開日（公表日）： 1993年12月07日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 本発明はクリ-ニング性が優れており、感光体に傷をつけることがなく、画像濃度の低下やかぶりの増大を防止することができる静電荷像現像剤の提供を目的とするものである。【構成】 本発明の静電荷像現像剤は、帯電特性が平均粒径が0.1 〜10μm であり、JIS K 6301A形硬さ試験計による硬度が20〜90であるシリコ-ンエラストマ-球状微粒子を含有することを特徴とするものである。

請求項（抜粋）：

平均粒径が0.1〜10μm であり、JIS K 6301A形硬さ試験計による硬度が20〜90であるシリコ-ンエラストマ-球状微粒子を含有することを特徴とする静電荷像現像剤。