特許

J-GLOBAL ID：200903098239523124

測定装置及び方法

発明者： グーチ、リチャード・マイケル
出願人/特許権者： ビ-エイイ- システムズ パブリック リミテッド カンパニ-
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-574825
公開番号（公開出願番号）：特表2003-530561
出願日： 2001年04月06日
公開日（公表日）： 2003年10月14日
要約：

【要約】この発明は計算機支援の製造(CAM)または検査(CAI)で使用するための測定装置に係り、この測定装置はベース測定装置(4,5a,5b,7a,7b)とセンサ手段(2)とを備え、センサ手段はベース測定装置とは独立して移動可能であって、しかもセンサ手段と選ばれた点との間の距離を決めるようにされており、基本測定装置はベース測定装置に対するセンサ手段の位置を決めるようになっていて、測定装置はプロセッサ手段(4)を備えていて、それがベース測定装置とセンサ手段とにより生成された情報を受領するようになっていて、またプロセッサ手段はさらにベース測定装置に対する選ばれた点に関する位置情報を求めるようになっている。

請求項（抜粋）：

計算機支援の製造(CAM)または検査(CAI)で使用するための測定装置であって、基本測定装置(4,5a,5b,7a,7b)とセンサ手段(2)とを備え、該センサ手段は該基本測定装置とは独立して移動可能であり、かつ該センサ手段と選ばれた点との間の距離を判断するようにされていて、 該基本測定装置は該センサ手段の該基本測定装置に対する位置を判断するようにされていて、 該測定装置は該基本測定装置と該センサ手段とにより生成された情報を受領するようにされているプロセッサ手段(4)を備え、該プロセッサ手段はさらに該基本測定装置に対する選ばれた点に関する位置情報を求めるようにされている測定装置。

IPC (6件)：

G01B 21/00 ,  B23Q 17/24 ,  B64F 5/00 ,  G01B 11/00 ,  G01B 21/22 ,  G01B 11/26

FI (8件)：

G01B 21/00 E ,  G01B 21/00 H ,  B23Q 17/24 Z ,  B64F 5/00 D ,  G01B 11/00 B ,  G01B 11/00 H ,  G01B 21/22 ,  G01B 11/26 H

Fターム (22件)：

2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA31 ,  2F065BB27 ,  2F065FF04 ,  2F065FF11 ,  2F065GG04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM04 ,  2F065PP25 ,  2F065QQ31 ,  2F069AA04 ,  2F069AA71 ,  2F069GG04 ,  2F069GG07 ,  2F069GG09 ,  2F069HH09 ,  2F069HH30 ,  3C029EE20