特許

J-GLOBAL ID：200903098269633625

分光分析装置

発明者： 瀧澤 精一 ,  酒井 千明 ,  五十嵐 慶介 ,  加洲 政幸 ,  山内 良吾 ,  森本 信矢 ,  上中 進
出願人/特許権者： 株式会社クボタ
代理人 (1件)： 北村 修 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-333221
公開番号（公開出願番号）：特開平10-170432
出願日： 1996年12月13日
公開日（公表日）： 1998年06月26日
要約：

【要約】【課題】 分光分析装置において、複数の検出部を設ける場合に、装置全体の設置面積を狭くするとともに、装置価格を低減する。【解決手段】 光源部1からの測定用光線を試料に照射し、且つ、試料からの反射光又は透過光を受光するように構成された検出部3と、その検出部3が受光した光の分光スペクトルを得て、得られた分光スペクトルに基づいて、試料に含まれる成分を分析する分光分析部Aと、その分光分析部Aの分析結果を出力する出力部Oが設けられた分光分析装置において、検出部3が複数台設けられるとともに、それら複数の検出部3に対して、共通の1台の分光分析部Aが設けられ、各検出部3からの光を分光分析部Aに導く受光用光伝送手段2bと、複数の検出部3のうちから択一的に1台を選択して、その選択した検出部3からの光を分光分析部Aに導くように制御する制御手段Eとが設けられている。

請求項（抜粋）：

光源部(1)からの測定用光線を試料に照射し、且つ、試料からの反射光又は透過光を受光するように構成された検出部(3)と、その検出部(3)が受光した光の分光スペクトルを得て、得られた分光スペクトルに基づいて、試料に含まれる成分を分析する分光分析部(A)と、その分光分析部(A)の分析結果を出力する出力部(O)が設けられた分光分析装置であって、前記検出部(3)が複数台設けられるとともに、それら複数の前記検出部(3)に対して、共通の1台の分光分析部(A)が設けられ、各検出部(3)からの光を前記分光分析部(A)に導く受光用光伝送手段(2b)と、複数の前記検出部(3)のうちから択一的に1台を選択して、その選択した検出部(3)からの光を前記分光分析部(A)に導くように制御する制御手段(E)とが設けられている分光分析装置。

IPC (2件)：

G01N 21/27 ,  G01J 3/28

FI (2件)：

G01N 21/27 Z ,  G01J 3/28

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭59-070946
  
• 特開平4-208842
  
• 特開平3-165879