特許

J-GLOBAL ID：200903098336069284

有機ELディスプレイのγ特性測定方法および調整方法

発明者： 井上 益孝 ,  村田 治彦 ,  森 幸夫 ,  山下 敦弘 ,  棚瀬 晋 ,  木下 茂雄 ,  安田 仁志
出願人/特許権者： 三洋電機株式会社
代理人 (1件)： 香山 秀幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-379924
公開番号（公開出願番号）：特開2003-179834
出願日： 2001年12月13日
公開日（公表日）： 2003年06月27日
要約：

【要約】【課題】 この発明は、測定時間の短縮化が図れる有機ELディスプレイのγ特性測定方法を提供することを目的とする。【解決手段】 有機ELディスプレイのγ特性測定方法において、RGBの階調数および全階調の中から選択された所定の複数のγ特性測定用階調を予め設定するステップ、RGBのうちの任意の1つの映像について、各γ特性測定用階調毎に、その階調の映像を有機ELディスプレイに表示させるステップ、ならびに各γ特性測定用階調毎に、その階調の映像が有機ELディスプレイに表示されているときに、有機ELディスプレイに表示されている映像の輝度を測定するステップを備えている。

請求項（抜粋）：

有機ELディスプレイのγ特性測定方法において、RGBの階調数および全階調の中から選択された所定の複数のγ特性測定用階調を予め設定するステップ、RGBのうちの任意の1つの映像について、各γ特性測定用階調毎に、その階調の映像を有機ELディスプレイに表示させるステップ、ならびに各γ特性測定用階調毎に、その階調の映像が有機ELディスプレイに表示されているときに、有機ELディスプレイに表示されている映像の輝度を測定するステップ、を備えていることを特徴とする有機ELディスプレイのγ特性測定方法。

IPC (4件)：

H04N 5/70 ,  G01M 11/00 ,  H04N 17/04 ,  H05B 33/14

FI (4件)：

H04N 5/70 Z ,  G01M 11/00 T ,  H04N 17/04 C ,  H05B 33/14 A

Fターム (9件)：

2G086EE12 ,  3K007AB02 ,  3K007AB04 ,  3K007DB03 ,  5C058AA12 ,  5C058BA05 ,  5C058BA13 ,  5C061BB03 ,  5C061BB15