特許
J-GLOBAL ID：200903098423052061
光ディスクの不良セクタ判定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
柏木 明 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-096355
公開番号（公開出願番号）：特開平5-298836
出願日： 1992年04月16日
公開日（公表日）： 1993年11月12日
要約：
【要約】【目的】 不良となったセクタの前後左右のセクタを不良セクタになる可能性としてチェックすることが可能な光ディスクの不良セクタ判定方法を提供する。【構成】 不良セクタの情報を読出し、その不良セクタの円周方向前後及び半径方向左右のセクタの特定パターンを読出してエラー訂正符号から不良セクタか否かを判断し、もし不良セクタならば交代セクタを決定し、その交代セクタに前記不良セクタの情報を再記録し、不良セクタと交代セクタの情報を登録する動作を付加して交代処理を行うようにした。
請求項（抜粋）：
不良セクタの情報を読出し、その不良セクタの円周方向前後及び半径方向左右のセクタの特定パターンを読出してエラー訂正符号から不良セクタか否かを判断し、もし不良セクタならば交代セクタを決定し、その交代セクタに前記不良セクタの情報を再記録し、不良セクタと交代セクタの情報を登録する動作を付加して交代処理を行うようにしたことを特徴とする光ディスクの不良セクタ判定方法。
IPC (3件)：
G11B 20/18 101
, G11B 7/00
, G11B 20/10
