特許
J-GLOBAL ID：200903098437213297
実装基板検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
青木 輝夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-180578
公開番号（公開出願番号）：特開平8-035826
出願日： 1986年10月30日
公開日（公表日）： 1996年02月06日
要約：
【要約】【目的】 基板上に形成された電極領域とランド部位を自動的に抽出して、部品のマウント良否を判定できるようにする。【構成】 未実装基板25上の部品27aの位置、方向、種類およびランド部位28bに関するデータおよびこれらデータよりランド部位28bの場所を算出して記憶すると共に部品25の電極に関する画像情報を記憶するメモリ37と、被検査部品実装基板26の撮像部34と撮像された撮像画像から各部品27cのランド部位28cを抽出すると共に、この抽出画像から前記電極に関する画像情報を用いて、電極領域およびランド部位とにより部品26のマウント良否を判定する判定部46とから構成している。
請求項（抜粋）：
予め記憶された未実装基板上の部品の位置、方向、種類および前記部品毎のランド部位に関するデータを記憶する部品およびランド記憶手段と、該部品およびランド記憶手段からランド部位の場所を算出して記憶する記憶手段と、被検査部品実装基板を撮像する撮像手段と、該撮像手段により撮像された撮像画像から前記記憶手段の各部品のランド部位を抽出するランド部位抽出手段と、予め部品の電極に関する画像情報を記憶する電極記憶手段と、前記ランド部位抽出手段により抽出した抽出画像から前記電極記憶手段に記憶された画像を用いて抽出された電極領域と前記ランド部位抽出手段により抽出されたランド部位とにより部品のマウントの良否を判定する判定手段と、を備えたことを特徴とする実装基板検査装置。
IPC (5件)：
G01B 11/24
, G01N 21/88
, G06T 7/00
, H01L 21/66
, H05K 13/08
