特許

J-GLOBAL ID：200903098454986143

穀物等の搗精歩留測定方法及び該方法による搗精歩留測定装置

発明者： 佐竹 利彦 ,  佐竹 覺 ,  三上 隆司 ,  原 正純
出願人/特許権者： 株式会社佐竹製作所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-168523
公開番号（公開出願番号）：特開平5-332941
出願日： 1992年06月02日
公開日（公表日）： 1993年12月17日
要約：

【要約】【目的】 穀粒の搗精歩留を、原料の一粒に対する搗精後の一粒の歩留で算定して、どのくらい搗精が進んだかを正確に知るための方法とその装置を得る。【構成】 カメラ装置18,19,20によって撮像した一つの穀粒のX,Y,Z方向の画像デ-タを画像処理手段34によって画像処理し、各方向の長さのデ-タとし、この長さのデ-タによって演算手段37では穀粒の体積デ-タをあるいは重量デ-タを演算する。このデ-タが任意のデ-タ数になると標準偏差σを演算し、この標準偏差σをもとに任意に決められた範囲外のデ-タを不良デ-タとして排除し残った範囲内のデ-タで再度平均値を演算する。次に算定手段39では、搗精前の再平均値デ-タと搗精後の再平均値デ-タとを比較して歩留算定を行う。

請求項（抜粋）：

搗精処理前の複数個の被測定物と搗精処理後の複数個の被測定物とのそれぞれから取り込んだX,Y,Z方向の画像デ-タを処理して得られるX,Y,Z方向の寸法により、搗精処理前の複数個の被測定物の体積デ-タとその標準偏差σ並びに搗精処理後の複数個の被測定物の体積デ-タとその標準偏差σとを演算処理し、該演算処理により得られる標準偏差σによって任意に定められる範囲外の体積デ-タを除外した後の体積デ-タから得られる搗精処理前の複数個の被測定物の体積デ-タの平均値と搗精処理後の複数個の被測定物の体積デ-タの平均値とを比較して、搗精処理後の被測定物の搗精歩留を算定することを特徴とする穀物等の搗精歩留測定方法。