特許

J-GLOBAL ID：200903098522726210

MRI装置の制御方法およびMRI装置

発明者： 久保 浩一郎 ,  宇野 英明 ,  佐藤 隆洋 ,  吉澤 史浩 ,  河野 一博 ,  佐藤 健志 ,  伊藤 祐介 ,  伊藤 誉 ,  加藤 康司
出願人/特許権者： ジーイー横河メディカルシステム株式会社
代理人 (1件)： 有近 紳志郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-272150
公開番号（公開出願番号）：特開平9-108198
出願日： 1995年10月20日
公開日（公表日）： 1997年04月28日
要約：

【要約】【課題】 熟練者による作業を必要とせずに磁場均一性を調整可能にする。【解決手段】 計算機7は、磁場不均一性の分布を測定し、その磁場不均一性の分布を磁場均一性制御部14に与える。磁場均一性制御部14の温度分布算出部14aは、計算機7から与えられた磁場不均一性の分布に基づいて磁場不均一性を小さくするようなマグネットアセンブリ1の各部の温度分布を算出する。磁場均一性制御部14のヒータ駆動部14bは、マグネットアセンブリ1の各部の温度を温度センサs1〜s20で監視しながらヒータh1〜h16を駆動し、前記温度分布を実現する。【効果】 電気的に磁場均一性を調整できるため、熟練した作業者による作業を必要としなくなる。遠隔から通信により磁場均一性を調整可能となる。

請求項（抜粋）：

永久磁石によって磁場を形成するマグネットアセンブリを備えたMRI装置の制御方法であって、磁場を均一にするように、前記マグネットアセンブリを構成する磁性材料の温度分布を不均一に制御することを特徴とするMRI装置の制御方法。

IPC (3件)：

A61B 5/055 ,  G01R 33/383 ,  H01F 7/02

FI (3件)：

A61B 5/05 331 ,  H01F 7/02 D ,  G01N 24/06 510 P