特許

J-GLOBAL ID：200903098642169772

測距装置

発明者： 野中 修
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-251404
公開番号（公開出願番号）：特開2000-081563
出願日： 1998年09月04日
公開日（公表日）： 2000年03月21日
要約：

【要約】【課題】 不均一な抵抗層のPSDがもつワイドレンジで高精度という利点を生かしつつ定常光成分のアンバランスによる精度劣化に対処して高精度な測距装置を提供すること。【解決手段】 被写体に対してスポット状の測距用光を投射する投光手段と、該被写体からの反射信号光を受光しこの反射信号光の位置を2つの電気信号に変換して検出する受光手段6とを有する測距装置であり、この受光手段6を構成する半導体素子6aが、その信号光の位置変化に対しての変化量に応じて2つの電気信号の関係が位置によって異なる所定関数で変化し、その信号光以外の均一な照明に対しては上記2つの電気信号量が同じ割合で変化するようなるように構成する。

請求項（抜粋）：

被写体に対してスポット状の測距用光を投射する投光手段と、上記被写体からの反射信号光を受光して、この反射信号光の位置を2つの電気信号に変換して検出する受光手段とを有する測距装置において、上記受光手段を構成する半導体素子が、上記信号光の位置変化に対しての変化量に応じて2つの電気信号の関係が位置によって異なる所定関数で変化し、信号光以外の均一な照明に対しては、上記2つの電気信号量が同じ割合で変化するように構成したことを特徴とする測距装置。

IPC (4件)：

G02B 7/32 ,  G01B 11/00 ,  G01C 3/06 ,  G03B 13/36

FI (4件)：

G02B 7/11 B ,  G01B 11/00 B ,  G01C 3/06 A ,  G03B 3/00 A

Fターム (30件)：

2F065AA02 ,  2F065AA06 ,  2F065DD12 ,  2F065FF09 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ16 ,  2F065LL04 ,  2F065LL30 ,  2F112AA06 ,  2F112BA07 ,  2F112BA20 ,  2F112CA02 ,  2F112DA13 ,  2H011AA01 ,  2H011BA14 ,  2H011BB02 ,  2H011BB04 ,  2H051AA01 ,  2H051BB20 ,  2H051BB24 ,  2H051CA16 ,  2H051CA18 ,  2H051CB05 ,  2H051CB24 ,  2H051CB27 ,  2H051CC03 ,  2H051CD01 ,  2H051CD28 ,  2H051CD30 ,  2H051CE08