特許

J-GLOBAL ID：200903098750993651

ジルコニア部材およびその製造方法

発明者： 安田 一浩 ,  末永 誠一 ,  和田 国彦
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 須山 佐一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-018640
公開番号（公開出願番号）：特開平9-208306
出願日： 1996年02月05日
公開日（公表日）： 1997年08月12日
要約：

【要約】【課題】 正方晶を主とする安定化ジルコニア部材において、機械的強度および靭性等と、水蒸気劣化の抑制とを両立させる。【解決手段】 酸化イットリウムで安定化された正方晶ジルコニアを 80%以上含むジルコニア部材であって、酸化イットリウムの平均濃度が 5.6〜 8重量% の範囲であると共に、微小領域における酸化イットリウムの濃度が 5.5〜 6.5重量%の範囲の濃度分布領域が 50%以上含まれている。さらに、ジルコニア部材のX線回折(Cuターゲット使用)により得られる (002)面と (200)面との回折ピーク角度差△ 2θ1 =0.82-0.05x±0.05、 (220)面と (202)面との回折ピーク角度差△ 2θ2 =0.63-0.04x±0.05、 (311)面と (113)面との回折ピーク角度差△2θ3 =1.05-0.06x±0.05(xは酸化イットリウムの濃度(重量%))うち、少なくとも 1つの条件を満足する。すなわち歪みが除去されている。

請求項（抜粋）：

酸化イットリウムで安定化された正方晶ジルコニアを 80%以上含むジルコニア部材であって、前記酸化イットリウムの平均濃度が 5.6〜 8重量% の範囲であると共に、微小領域における前記酸化イットリウムの濃度が 5.5〜 6.5重量% の範囲の濃度分布領域が 50%以上含まれており、かつX線回折(Cuターゲット使用)により得られる (002)面と (200)面との回折ピーク角度差を△ 2θ1 、 (220)面と (202)面との回折ピーク角度差を△ 2θ2 、 (311)面と (113)面との回折ピーク角度差を△ 2θ3 としたとき、△ 2θ1 =0.82-0.05x±0.05、△ 2θ2 =0.63-0.04x±0.05、および△ 2θ3 =1.05-0.06x±0.05(ただし、xは酸化イットリウムの濃度(重量%)を示す)の少なくとも 1つの条件を満足することを特徴とするジルコニア部材。

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 電子機器の筐体構造
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-146081   出願人：株式会社日立製作所, 日立通信システム株式会社